EDX-LE能量色散X射線分析在地質探測中的應用

　　EDX-LE能量色散X射線分析是常用的分析手段，在電子與物質相互作用時，采用能聚焦的入射電子可以激發(fā)初級x射線，不同元素發(fā)射出來的特征x射線波長不同，能量也不同。利用x射線能量不同而展譜一般稱為x射線能譜分析或能量色散x射線分析，所用設備通常稱為能量色散譜儀。

 

　　EDX-LE能量色散X射線分析的主要單元是半導體探測器及多道脈沖高度分析器，用以將特征x射線按能量展i｝｝Er7，5的分辨率遠不如波長色散譜儀，它有分析速度快的優(yōu)點，和通用的x射線波長色散譜儀相比可提高10倍，如果進行物相鑒定，只需幾分鐘就可以得到被測物質的全部衍射花樣。

 

　　X射線熒光分析技術（XRF）作為常規(guī)、快速的分析手段，開始于20世紀50年代初，經歷了50多年的不斷發(fā)展，現(xiàn)在已成為物質組成分析的方法之一。由于波長色散配備較大功率的X光管，熒光強度高；因此，波長色散儀器占用較短的測量時，便能達到較高的測量精度。

 

　　X射線熒光分析技術可以分為兩大類型：波長色散X射線熒光分析（WDXRF）和能量色散X射線熒光分析（EDXRF）；而能量色散型又根據探測器的類型分為（Si－PIN）型和SDD型。在不同的應用條件下，這幾種類型的技術各有其突出的特點。

 

　　目前，X射線熒光分析不僅材料科學、生命科學、環(huán)境科學等普遍采用的一種快速、準確而又經濟的多元素分析方法。也是X射線熒光光譜儀也是野外現(xiàn)場分析和過程控制分析等方面的儀器之一。同時，成為地質、冶金、建材、石油化工、半導體工業(yè)和醫(yī)藥衛(wèi)生等領域的重要分析手段。