膜厚測試儀

型號

P920-S

P920-MWS

P920-MWM

P920-AM

名稱

半自動

自動臺

固定臺

單準直器加深臺

多準直器加深臺

樣品圖片

測量元素范圍

Ti²²---U⁹²

鍍層和成分分析

• 鍍層：zui多同時測定5層（4層鍍層 基體材料）鍍層
• 成分：zui多同時測量25種元素

測量方法

• SmartLink^âFP（基本參數法）
• 儀器預裝超過800種應用參數/方法
• 簡單直觀步驟建立應用

X射線激發

• 50kV、1.0mA(50W)
• 空冷式微聚焦W靶X射線管，Be窗
• 垂直下照式X射線光學系統
• 安全防射線光閘
• 二次濾波組件，可選三個程控交換的濾波器，有效于X射線重疊譜的修正

成像系統

• 彩色視頻系統
• 光學放大：30倍，可選項50倍
• 數字放大200%
• 激光自動對焦
• 被測樣品圖像實時顯示功能

計算機系統

• In Core i3-3240  3.40GHz，內存2G，硬盤500G，DVD光驅
• 17吋液晶彩色顯示器
• Microsoft^TM  Win7 32bit

樣品臺規格

• 測量樣品高度≤33mm

• 測量樣品高度≤160mm
• 樣品倉內部尺寸（寬×深×高）：279×508×152mm
• 樣品倉抽屜式設計，4個位置上下可調，每格高度25.4mm
• 自定義樣品臺：可依據客戶要求提供更高的樣品臺，滿足樣品高度＞160mm的測量

• 測量樣品高度≤33mm
• X-Y軸行程：寬×深178×178mm
• 樣品臺尺寸：寬×深610×560mm
• 自動送樣，無人自動測量
• 對樣品編程控制，自動多點測試和重復測試
• 鼠標控制樣品臺精確定位樣品

儀器外形

寬×深×高

407×770×305mm

407×770×400mm

610×1037×375mm

Z軸

使用鼠標控制，程控移動距離43mm

準直器規格

• 可選單準直器、多準直器
• 多準直器程控交換
• 可選園形、矩形準直器
• 園形準直器：Ø0.1、Ø0.15、Ø0.2、Ø0.3、Ø0.33、Ø0.5mm
• 矩形準直器：0.025x0.05、0.05x0.05、0.013x0.254、0.254x0.254、0.051x0.254、0.102x0.406mm
• 單準直器標配：Ø0.3mm
• 雙準直器標配：Ø0.1、Ø0.3mm
• 四準直器標配：Ø0.15、Ø0.3、0.05x0.05、0.051x0.254mm

探測器

正比例計數器

工作原理

對被測樣品發射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析

安全性

• 自動鎖定功能，防止未授權的操作
• 簡單用戶界面只向日常操作員設定有限的授權
• 主管人員可進行系統維護
• 系統自動生成操作員的使用記錄
• Z軸保護傳感器
• 安全防射線光閘
• 樣品室門開閉傳感器
• X射線鎖
• X射線警示燈
• 緊急停止按鈕
• 前面板安全鈕和后面板安全鎖

結果輸出

• 直接打印
• 一鍵導出到PDF文件、Excel文件（選配）；
• 自定義報告模板，報告包可含數據、圖像、統計圖表、客戶信息等；
• 統計數據、圖、表含有平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數據分組、X-bar/R圖表、直方圖等